УДК 621.3.049.67 ОЦЕНКА ИНТЕНСИВНОСТИ СБОЕВ В ЭЛЕКТРОННЫХ СИСТЕМАХ КОСМИЧЕСКОГО БАЗИРОВАНИЯ ESTIMATION OF SINGLE EVENT RATE IN SPACE-BASED ELECTRONIC SYSTEMS Земцов Кирилл Сергеевич аспирант E-mail: cirilll@list.ru Зебрев Геннадий Иванович д-р техн. наук, профессор E-mail: gizebrev@mephi.ru Горчичко Мария Евгеньевна cтудент E-mail: maria.gorchichko@gmail.com Национальный исследовательский ядерный университет “МИФИ”, Москва Аннотация: Предложен новый метод характеризации результатов лабораторных испытаний и оценки скорости сбоев в интегральных схемах памяти в условиях воздействия тяжелых ионов космического пространства. <...> ВВЕДЕНИЕ Интегральные схемы памяти широко используются в составе бортового оборудования космических аппаратов. <...> Воздействие ионизирующего излучения космического пространства на данные устройства может привести к всевозможным нарушениям функционирования вплоть до полной потери работоспособности. <...> Чувствительность интегральных схем памяти к одиночным сбоям, вызванным тяжелыми заряженными частицами (ТЗЧ), обусловлена значительной площадью критических блоков, попадание частицы в которые вызывает нарушение логического состояния ячейки памяти и, как следствие, потерю информации. <...> Для оценки стойкости элементов памяти к радиационным воздействиям проводятся экспериментальные испытания на установках, имитирующих воздействие дестабилизирующих факторов космического пространства. <...> Данные экспериментальные исследования призваны спрогнозировать Zemtsov Kirill S. <...> (Tech.), Professor E-mail: gizebrev@mephi.ru Gorchichko Maria E. Student E-mail: maria.gorchichko@gmail.com National Research Nuclear University MEPhI, Moscow Abstract: A new method of characterization of the results of laboratory tests and predictions of single event rate in integrated memory circuits in terms of exposure to heavy ions in outer space is proposed. <...> Keywords: single event upsets, heavy ions, single event rate. сбоеустойчивость изделия к ионизирующему излучению до начала его штатного функционирования. <...> Результатом наземных испытаний на сбоеустойчивость является получение зависимости сечения сбоя линейной передачи энергии (ЛПЭ) (характеризующее вероятность <...>